Presentation 重粒子線照射によるヒドロキシルラジカル生成密度とLET依存性の検証

小川, 幸大  ,  関根, 絵美子  ,  中西, 郁夫  ,  松本, 謙一郎

2017-06-29
Description
【目的】重粒子線のような高LET放射線においても、活性酸素種 (ROS) の生成が生体影響に関与していることが認識されつつある。これまでに我々は、電子常磁性共鳴 (EPR) スピントラッピング法を使用し、重粒子線により生じる•OHには2種類の生成密度があることを報告した。本研究では、この2種類の•OH生成密度について、テレフタル酸二ナトリウム (TPA-Na) を用いた蛍光プローブ法によって更に検証を行い、•OH生成のLET依存性とその分布の解明を目指した。【方法】段階的に濃度を調整した 350 mL のTPA-Na水溶液 (0.5-208 mM) に対し、炭素線 (290 MeV/μ)、シリコン線 (490 MeV/μ)、鉄線 (500 MeV/μ) をそれぞれ32 Gy 照射した。照射後、蛍光光度計 (Ex.310 nm/Em.425 nm) を使用し試料を測定した。各粒子線において比較的LETが低い領域あるいはブラッグピーク付近の高LET領域を照射し、•OH生成密度を比較した。重粒子線の照射には放射線医学総合研究所の重粒子線がん治療装置 (HIMAC) 利用した。【総括】32 Gy の各重粒子線照射による•OH生成をEPR法と蛍光法により検出し、比較した。ブラッグピーク付近の高LET領域では、蛍光法でもEPR法の結果と同様に、高密度なプローブ (密度: 500μm-1, 濃度: 208 mM) でないと検出できない極めて密な•OHの生成が観測された。これは、イオントラック構造のコアにおける局所かつ高密度な•OHを反映した結果と考えられた。一方、低LET条件により得られたプロットはEPR法と蛍光法で差異がみられた。溶存酸素が関わり、HO2•由来の蛍光による差異であると考えられる。
第70会酸化ストレス学会学術集会

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