会議発表用資料 微粒子や鉱物微小領域評価のためのイオンマイクロビーム発光連続分析技術

加田, 渉  ,  川端, 駿介  ,  佐藤, 隆博  ,  江夏, 昌志  ,  山田, 尚人  ,  三浦, 健太  ,  神谷, 富裕  ,  村尾, 智  ,  花泉, 修

2016-11-25
内容記述
MeV級水素イオンマイクロビームによる荷電粒子誘起発光(IBIL)顕微分光分析の開発では、光学系の改良によるS/N比の改善と複数の波長スペクトルの同時測定により、様々な試料からのIBILスペクトルの高感度かつ短時間の計測が可能になった。そこで、実際に環境試料中に含まれる化合物の分析にこれを利用した。実験では標準試料(SiO2:Feを含む)と環境試料のIBILスペクトルをそれぞれ測定し、前者から得られたIBILスペクトルについて、基線減算処理、ピークフィッティングを行った後、後者のIBILスペクトルと比較した。この結果、環境試料中に含まれている複数の化合物の中の一つのSiO2:Feの識別に成功した。今後、様々な化合物を含む標準試料のIBILスペクトルデータベースの整備を進めることにより、MeV級水素イオンマイクロビームを用いた化合物のマッピングが実現可能であることが示された。
第26回環境地質学シンンポジウム

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