Presentation Construction of a spin-polarized positronium time-of-flight measurement apparatus

前川雅樹  ,  和田健  ,  宮下, 敦己  ,  Kawasuso, Atsuo

2016-05-23
Description
我々は表面ポジトロニウム(Ps)の3光子消滅率を測定することで、磁性薄膜表面に存在する電子スピン偏極率の評価を行っている。もしPsの速度分布が取得できれば、最表面かつフェルミ面近傍の電子状態の観測が可能となる。我々は現在、そのような測定が可能なPsの飛行時間測定(TOF測定)システムの構築を進めている。今回、TOF測定の前段階として、陽電子消滅寿命測定が行えるシステムの構築を行った。銀薄膜の表面において、50eVに減速した陽電子ビームを用いてオルソポジトロニウムの寿命142nsに相当するスペクトルを得ることに成功した。今後は装置の分解能を高めるとともに、磁性材料の表面ポジトロニウムを測定していく予定である。
14th International Workshop on Slow Positron Beam Techniques & Applications (SLOPOS14)

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