会議発表用資料 顕微赤外分光法によるポリイミド薄膜に対する重イオン照射効果

池永, 龍之介  ,  金崎, 真聡  ,  楠本, 多聞  ,  安田, 修一郎  ,  小平, 聡  ,  北村, 尚  ,  小田, 啓二  ,  山内, 知也

2016-03-14
内容記述
これまでに高閾値固体飛跡検出器のポリイミドについて、入射エネルギーが6 MeV/n以下の重イオン照射実験が体系的に行われてきた。しかし高エネルギー域の応用分野に対応するため、本研究ではKapton、UPILEX-S、UPILEX-RNの三種類のポリイミドを対象に100 MeV/n以上の重イオンを照射し、顕微赤外分光法を用いた損傷構造の解析を目的とした。3種類のポリイミド薄膜に高エネルギー重イオンを照射した結果、低エネルギー重イオン照射の結果と比べると、損傷パラメータは同様の傾向を示し、同じ阻止能域での低エネルギー、高エネルギーの結果が同程度の値を示すことが確認された。
第30回固体飛跡検出器研究会

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