紀要論文 平坦度半導体検出器を用いたQAQCプログラム -ガントリ角度におけるビームプロファイルの変化について-

中岡, 靖博  ,  坂本, 清隆  ,  中田, 幸博  ,  関口, 慎之助  ,  山下, 光弘

内容記述
当院ではH26年(2014年度)より放射線治療装置Clinac iXsによる治療を開始し、検証用ツールとして1174型PROFILER2が導入され、ビームプロファイル検証が効率化した。ガントリ角度による、EDW(Enhanced Dynamic Wedge)及び、線量率(Dose rate)によるビームプロファイルの変化について確認を行った。さらに出力線量の簡易チェックにも用いる事ができるかの検討も行ったので報告する。PROFILER2の測定精度を確認した。ガントリ角度におけるビームプロファイルの変化について、線量、平坦度、対称性の変動を測定した。PROFILER2をカウチ上に設置し、一か月間の測定値の変動を測定した。それぞれの角度における誤差は2%以内であり、角度ごとのビームプロファイルの変化は僅かであった。出力測定では誤差が2%以内であった。PROFILER2の測定誤差、幾何学的誤差を考慮して3%以上の値となった際、線量計によるMU校正を行う事とし、週明けの始業前確認として簡易的に出力測定を行っていければと考える。
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