Journal Article Heavy-Ion Soft Errors in Back-Biased Thin-BOX SOI SRAMs: Hundredfold Sensitivity Due to Line-Type Multicell Upsets

Kobayashi, Daisuke  ,  Hirose, Kazuyuki  ,  Ito, Taichi  ,  Kakehashi, Yuya  ,  Kawasaki, Osamu  ,  Makino, Takahiro  ,  Ohshima, Takeshi  ,  Matsuura, Daisuke  ,  Narita, Takanori  ,  Kato, Masahiro  ,  Ishii, Shigeru  ,  Masukawa, Kazunori  ,  小林, 大輔  ,  廣瀬, 和之  ,  伊藤, 大智  ,  梯, 友哉  ,  川崎, 治  ,  牧野, 高紘  ,  大島, 武  ,  松浦, 大介  ,  成田, 貴則  ,  加藤, 昌浩  ,  石井, 茂  ,  益川, 一範

65 ( 1 )  , pp.523 - 532 , 2018-01 , Institute of Electrical and Electronics Engineers
ISSN:0018-94991558-1578
NCID:AA00667999
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著者人数: 12名
Accepted: 2017-11-14

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