会議発表論文 Direct measurement of blunt end stacking between DNA layers by atomic force microscopy: For understanding mechanisms underlying self-assembly process of DNA molecules

関根, 泰斗  ,  Sekine, Taito  ,  尾笹, 一成  ,  Ozasa, Kazunari  ,  丹生, 隆  ,  Nyu, Takashi  ,  林, 智広  ,  HAYASHI, Tomohiro

このアイテムのアクセス数:  回

その他の情報