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酸化タンタル薄膜の微構造と抵抗スイッチング時に生じる伝導度の量子化の関係酸化タンタル薄膜の微構造と抵抗スイッチング時に生じる伝導度の量子化の関係 Relationship between microstructure and conductance quantization in resistive switching in TaOx thin films 酸化タンタル薄膜の微構造と抵抗スイッチング時に生じる伝導度の量子化の関係

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