会議発表論文 Measurement of Dielectric Property in Terahertz Region Using Far-Infrared Ellipsometer

保科, 拓也  ,  Hoshina, Takuya  ,  金原, 一樹  ,  Kanehara, Kazuki  ,  武田, 博明  ,  Takeda, Hiroaki  ,  鶴見, 敬章  ,  tsurumi, takaaki

2016-05

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