会議発表論文 Accurate Characterization Method for Cross-Line on CMOS Based on Two-Port Measurements

Tokgoz, KorkutKaan  ,  Tokgoz, Korkut Kaan  ,  眞木, 翔太郎  ,  Maki, Shotaro  ,  岡田, 健一  ,  Okada, Kenichi  ,  松澤, 昭  ,  Matsuzawa, Akira

2016-03

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