会議発表論文 Reconsidering Dielectric Breakdown Mechanisms for Realizing High-Temperature Capacitors

鶴見, 敬章  ,  tsurumi, takaaki  ,  山崎, 幹雄  ,  Yamazaki, Mikio  ,  保科, 拓也  ,  Hoshina, Takuya  ,  武田, 博明  ,  Takeda, Hiroaki

2015-05

このアイテムのアクセス数:  回

その他の情報