Departmental Bulletin Paper 全反射を利用したX線エネルギーフィルターの開発
Development of X-ray energy filter using total reflection

岡本, 博之  ,  濱, 康彦  ,  国岡, 由紀  ,  森川, 公彦  ,  水野, 薫

39 ( 1 )  , pp.59 - 64 , 2015-07-28 , 金沢大学つるま保健学会 = Tsuruma Health Science Society, Kanazawa University
ISSN:1346-8502
NCID:AA11599711
Description
CT スキャンにおいて、最も一般的なアーティファクトとしてbeam hardening があげら れる。これは、観察した物体の中央に比べ、周辺部が明るく表示される現象である。低エネ ルギーのX 線は高エネルギーのX 線に比べると、試料中でより減弱が起こるため、平均の X 線エネルギーは増加する。この様な理由によって、白色X 線を用いたCT は定量性が低い といわれている。この現象は、単色X 線を使用することで解決できる。そこでこの問題を解 決するため、全反射現象を利用して、X 線のエネルギー値を任意に設定できるフィルターを 開発した。  実験は高エネルギー加速器研究機構物質構造科学研究所(KEK-PF)BL-14B と20B で行っ た。X 線のエネルギーはビームラインに設置されたダブルクリスタルモノクロメータにより、 10 ~ 24[keV] に調整した。ハイパスフィルターとしてポリプロピレン板を、ローパスフィル ターとしてガラス板を、それぞれ使用した。フィルター板の設定角度を変えることで、反射 率は変化した。フィルターからのX 線の強度分布は、X 線エネルギーとフィルター板の角度 を調整することにより、変化した。  結果を説明するため、板の表面が完全な平面であると仮定しシミュレーションを行ったと ころ、実験結果と一致しなかった。そこで板表面の粗さを考慮して再度シミュレーションを 行ったところ、実験結果とよく一致した。このことから、今回開発したフィルターにおいては、 板の粗さが強度分布を決める重要な因子であることが分かった。
Full-Text

http://dspace.lib.kanazawa-u.ac.jp/dspace/bitstream/2297/43086/1/AA11599711-39-1-59-64.pdf

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