Thesis or Dissertation 電子機器の構造信頼性評価における大規模接触解析手法に関する研究

稲垣, 和久

2016-03-24
Description
学位の種別: 課程博士
審査委員会委員 : (主査)東京大学教授 奥田 洋司, 東京大学准教授 森田 剛, 東京大学講師 橋本 学, 東京大学教授 中島 健吾, 東京大学特任准教授 鷲尾 巧
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