学位論文 Electrical characterization of strained and unstrained Si MOS interfaces and impact of interface defects on the device properties

蔡, 偉立

2015-03-24
内容記述
学位の種別: 課程博士
審査委員会委員 : (主査)東京大学教授 高木 信一, 東京大学教授 平川 一彦, 東京大学教授 平本 俊郎, 東京大学准教授 竹中 充, 東京大学准教授 小林 正治, 東京大学教授 鳥海 明
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