一般雑誌記事 フリーソフトを使って試みたこと--低ノイズ・ぶれなし高分解能像、EPMA による薄膜試料の膜厚測定・定量分析--

鹿住, 健司

13pp.65 - 66 , 2016-06 , 京都大学工学研究科技術部
NII書誌ID(NCID):AA12432992
内容記述
技術発表 (平成27年度 山形大学機器・分析技術研究会) 口頭発表
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http://repository.kulib.kyoto-u.ac.jp/dspace/bitstream/2433/215085/1/tec_13_65.pdf

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